美仁半导体申请电机相电流采样相关专利
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美仁半导体申请电机相电流采样相关专利

2025年8月5日消息,国家知识产权局信息显示,上海美仁半导体有限公司申请一项名为“电机相电流采样方法及装置、芯片、电机控制器”的专利,公开号CN120428089A,申请日期为2024年02月。

专利摘要显示,本发明公开了一种电机相电流采样方法及装置、芯片、电机控制器,其中方法包括:在一个脉冲调制周期中,获取多相桥臂的占空比;根据占空比确定待采样桥臂;在待采样桥臂对应的目标采样时段内,采样待采样桥臂对应的电机相电压,并确定相应的电机中性点电压;其中,目标采样时段为待采样桥臂对应的死区开始至续流完成前的时段;根据待采样桥臂对应的电机相电压和相应的电机中性点电压,确定待采样桥臂对应的电机相电流。该方法能够无需移相和采样点计算实现对电机相电流的采样功能,算法简单且不会产生谐波,相电流采样成本较低。

天眼查资料显示,上海美仁半导体有限公司,成立于2018年,位于上海市,是一家以从事软件和信息技术服务业为主的企业。企业注册资本7800万人民币。通过天眼查大数据分析,上海美仁半导体有限公司财产线索方面有商标信息8条,专利信息76条,此外企业还拥有行政许可1个。

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关键词:半导体  美仁  MCU   编辑:OYH
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